ZMI-2002 8020-0211-1-J ZYGO 测量仪器

描述

ZMI-2002 8020-0211-1-J   ZYGO测量仪器

产品介绍

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J 是一款高精度的测量仪器，主要用于表面形貌的测量。该仪器采用激光干涉仪测量原理，能够测量高度差，曲率半径，表面形状等参数。

技术说明

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J 的激光干涉仪测量原理是通过将激光束分成两束，分别射向被测物表面和参考平面，然后将反射回来的光束重新合成一束，通过干涉条纹的变化来测量被测物表面的高度差。

产品说明

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J 由测量主机和测量探头两部分组成。测量主机包含显示屏、控制面板、数据处理器等；测量探头包含激光发射器、激光接收器、探头支架等。

产品参数

• 测量范围：0-10mm
• 测量精度：0.1nm
• 光源波长：632.8nm
• 工作距离：18mm
• 工作温度：10-30°C

产品规格

• 外形尺寸：260mm × 110mm × 170mm
• 重量：2.5kg
• 电源：AC 220V，50Hz

应用领域

ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J 适用于电子、光学、精密机械等领域的表面形貌测量。

常见问题解答

Q: ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J 是否支持远程控制？ A: 是的，可以通过 RS-232 接口实现远程控制。

Q: 如何保养和维护 ZYGO ZMI-2002 8020-0211-1-J？ A: 请定期清洁测量探头和探头支架，并注意防潮和防尘。

Q: 是否可以使用其他波长的光源进行测量？ A: 不建议使用其他波长的光源，会影响测量精度。

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