HP 5517B Agilent干涉仪

产品参数

  • 波长范围:633nm – 860nm
  • 稳定性:±0.1nm
  • 带宽:0.5nm
  • 探测器类型:Si
  • 最大检测灵敏度:10nW
  • 光学输出:1mW
  • 数据输出:RS-232
  • 工作温度:10°C – 30°C

产品规格

  • 外观尺寸:280mm × 330mm × 130mm
  • 重量:7.6kg
  • 输入电源:100V – 240V AC, 50/60Hz
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描述

产品参数

  • 波长范围:633nm – 860nm
  • 稳定性:±0.1nm
  • 带宽:0.5nm
  • 探测器类型:Si
  • 最大检测灵敏度:10nW
  • 光学输出:1mW
  • 数据输出:RS-232
  • 工作温度:10°C – 30°C

产品规格

  • 外观尺寸:280mm × 330mm × 130mm
  • 重量:7.6kg
  • 输入电源:100V – 240V AC, 50/60Hz

应用领域

  • 光学干涉测量
  • 光学元件测试
  • 材料表征

产品使用说明

  1. 将干涉仪放置在平稳的表面上
  2. 连接干涉仪电源
  3. 连接需要测试的光学元件
  4. 打开干涉仪测量软件并进行测量

产品介绍

Agilent HP 5517B 干涉仪是一款高精度的光学测试仪器,可用于光学干涉测量、光学元件测试和材料表征。其稳定性和灵敏度优异,可满足各种光学测试需求。

技术说明

Agilent HP 5517B 干涉仪采用Si探测器和RS-232数据输出,具有波长范围广、稳定性好、检测灵敏度高等特点,可用于各种光学测试领域。

常见问题解答

Q: 如何保证干涉仪测量精度? A: 在使用干涉仪前,需确保其放置在平稳的表面上,避免振动和其他干扰因素的影响,同时还需校准干涉仪以确保其精度。

Q: 如何进行干涉仪的数据输出? A: 干涉仪的数据输出采用RS-232接口,需连接到计算机或其他数据处理设备上进行输出和处理。

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