4104C ZYGO光学表面测量仪器

描述

4104C  ZYGO光学表面测量仪器

产品介绍

ZYGO 4104C是一款高精度的光学表面测量仪器，可用于测量各种光学元件的表面形貌和表面质量。

产品参数

• 测量范围：0.1 nm – 6.5 mm
• 测量精度：0.01 nm
• 测量时间：5 – 60 秒
• 光源：HeNe激光器
• 探测器：高灵敏CCD相机
• 工作温度：15 – 30 ℃
• 工作湿度：20 – 80%

技术说明

ZYGO 4104C采用相位测量干涉仪技术，能够对被测表面进行高精度、非接触式的测量，并能够实现快速自动化测量。

产品说明

ZYGO 4104C具有操作简单、测量精度高、稳定性好等特点，可广泛应用于光学元件、半导体器件、精密机械等领域。

应用领域

ZYGO 4104C主要应用于以下领域：

• 光学元件制造
• 半导体器件制造
• 精密机械制造

产品使用说明

在使用ZYGO 4104C时，请务必按照操作手册中的操作流程进行操作，并注意安全事项。

常见问题解答

• Q: ZYGO 4104C是否支持自动化测量？ A: 是的，ZYGO 4104C支持自动化测量，并可通过电脑软件实现数据处理和分析。
• Q: ZYGO 4104C的测量精度如何？ A: ZYGO 4104C的测量精度为0.01 nm，能够满足大部分高精度测量需求。
• Q: ZYGO 4104C的测量范围是多少？ A: ZYGO 4104C的测量范围为0.1 nm – 6.5 mm，能够满足不同尺寸的测量需求。

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